走査電子顕微鏡(SEM-EDS)による表面形状観察・元素マッピング解析
★ 異物の表面観察・元素マッピング解析
★ 不良製品の表明形状確認 (金属粉の形態観察と材質の判別など)
次世代シークエンサーから出力される膨大なデータの解析に対応した統合配列解析ソフトウェアです。 最先端の解析アルゴリズムと高速なゲノムアセンブル・マッピングツール、豊富なグラフィカル機能や多彩な出力オプションを搭載し、ユーザーフレンドリーかつ直感的なインターフェイスで稼働します。
・正常部と腫瘍部を比較し、腫瘍特異的な変異を同定する。
・分化過程での発現量の違いを比較する
・微生物のゲノム配列を同定する
・転写因子の結合部位を同定する